Уязвимость BDU:2026-00199

Идентификатор: BDU:2026-00199.

Наименование уязвимости: Уязвимость лазерного датчика SICK DL100, связанная с использованием обратимой односторонней хэш-функции, позволяющая нарушителю оказать влияние на целостность устройства.

Описание уязвимости: Уязвимость лазерного датчика SICK DL100 связана с использованием обратимой односторонней хэш-функции. Эксплуатация уязвимости может позволить нарушителю, действующему удаленно, оказать влияние на целостность устройства путём подбора пароля
Уязвимое ПО: Микропрограммный код SICK AG SICK DL100 — |

Наименование ОС и тип аппаратной платформы:
Дата выявления: 14.03.2025.
CVSS 2.0: AV:N/AC:L/Au:N/C:C/I:C/A:C
Уровень опасности уязвимости: Критический уровень опасности (базовая оценка CVSS 2.0 составляет 10)
Критический уровень опасности (базовая оценка CVSS 3.1 составляет 9,8)

Возможные меры по устранению:
Использование рекомендаций производителя:
https://www.sick.com/.well-known/csaf/white/2025/sca-2025-0004.pdf.
Статус уязвимости: Подтверждена производителем
Наличие эксплойта: Данные уточняются
Информация об устранении: Уязвимость устранена
Идентификаторы других систем описаний уязвимости: CVE-2025-27595.

Тип ошибки CWE:
Ссылки на источники:
cайт ФАУ «ГНИИИ ПТЗИ ФСТЭК России».
https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2025-27595
https://github.security.telekom.com/2025/03/multiple-vulnerabilities-in-sick-dl100.html
https://www.sick.com/.well-known/csaf/white/2025/sca-2025-0004.pdf